Libellé inconnu

M. Damien Valente

Ingénieur de recherche en science des matériaux / caractérisation sur le pôle MTC et CERTeM. Mes spécialités et champs d’expertise s’articulent autour de la microscopie électronique (SEM, FIB, e-beam lithography,…) appliquée entre autres aux matériaux semi-conducteurs (Si, SiC, GaN). Par ailleurs, j’assure la gestion de l’une des plateformes du CERTeM (200m² - ISO7) orientée caractérisation physique/électrique (XRD, AFM, MEB,…) et chimie des matériaux. J’effectue également les travaux de qualification et de maintenance de ces équipements et conduis et/ou accompagne dans la mise en œuvre de travaux expérimentaux dans le cadre des activités de recherche du GREMAN et des partenaires. Enfin, j'assure la formation des personnels partenaires sur les équipements de micro-fabrication et de caractérisation.